전자 부품을 위한 맞춤형 열 충격 테스트 챔버

역동적인 전자 산업에서는 부품의 신뢰성과 내구성이 중요합니다.우리의 맞춤형 열 충격 테스트 챔버는 제조업체가 전자 부품에 극단적인 온도 변동에 노출 할 수 있습니다, 열 스트레스 조건 하에서의 성능을 평가합니다.

이 챔버들은 급속한 온도 전환을 만들어 전자 부품의 수명 주기에 발생할 수 있는 열 충격을 시뮬레이션합니다.스마트폰에서 외부의 추운 환경에서 온난한 실내 환경, 우주 위성 전자 장치까지, 우리의 방은 이러한 시나리오를 복제하여 부품, 회로 보드 및 커넥터의 잠재적 약점을 식별합니다.

• 견고하고 고립 된 방 구조고품질의, 열에 내성이 강한 재료로 만들어졌습니다.급격한 온도 변화와 전망 창과 함께 단단히 밀폐 된 문.
• 정밀 온도 조절첨단 시스템은 ± 1 ° C의 균일성으로 -60 ° C에서 + 180 ° C 범위를 달성합니다. 강력한 난방 / 냉각 요소, 정교한 피드백 루프 및 정확하고 빠른 전환을위한 여러 센서를 사용합니다.
• 효율적 인 공기 흐름 및 전송고효율의 공기 흐름 시스템은 온도 분포를 균일하게 보장합니다. 열에 저항하는 전송 바구니는 표본 무결성에 영향을 미치지 않고 온도 구역 사이의 원활한 이동을 허용합니다.

• 다양한 구성 요소 크기를 수용 할 수있는 커스터마이징 볼륨과 크기
• 온도 범위: -60°C ~ +180°C
• 급속한 온도 전환 (5-10분)
• ±1°C 내 온도 균일성

각 방은 엄격 한 품질 관리 하에 제조 됩니다. 주의 깊게 소스 된 부품. 추적 가능한 표준을 사용하여 정기적 인 캘리브레이션은 검사 결과의 정확성 및 재생 가능성을 보장 합니다.엄격 한 품질 감사 는 최고 수준의 제품 표준 을 유지 합니다.