맞춤형 열 충격 테스트 챔버 JESD22-A106B 표준을 충족

경쟁이 치열하고 혁신 중심의 반도체 및 전자 산업에서 Jesd22-A106B, 열 충격 테스트 표준을 충족하도록 설계된 맞춤형 열 충격 챔버는 전자 부품의 품질과 내구성을 보장하는 게임 체인저로 등장합니다.

이 맞춤형 열 충격 챔버는 JESD22-A106B가 의무화 된 정확한 열 충격 테스트 프로토콜에 통합 회로, 트랜지스터, 커패시터 및 커넥터와 같은 다양한 반도체 및 전자 부품을 적용하는 데 전념합니다.

반도체 제조업체, 전자 장치 설계 주택 및 품질 보증 실험실에 없어서는 안될 도구 역할을합니다. 가장 중요한 목표는 이러한 구성 요소가 빠르고 극한 온도 전이를 견딜 수있는 능력을 평가하는 것입니다.

제조 공정, 운영 수명 동안 구성 요소가 발생할 수있는 열 충격 조건을 복제함으로써 다양한 환경 시나리오에서 제조업체는 잠재적 약점을 식별하고 수정하고 생산 공정을 최적화하며 전자 제품의 전반적인 신뢰성 및 성능을 향상시킬 수 있습니다.

• 강력하고 고성능 챔버 건설
  • 챔버는 강렬한 열력을 견딜 수있는 강력한 열 내성 재료로 구성됩니다.
  • 벽은 고급 열 절연 층과 결합하여 고급 영역과 차가운 구역 사이의 열 전달을 최소화하는 고 강성 합금 강으로 제작됩니다.
  • 도어는 정밀도 밀봉 메커니즘과 시청 창으로 설계되어 연산자는 챔버의 무결성을 손상시키지 않고 테스트 프로세스를 면밀히 모니터링 할 수 있습니다.
  • 내부는 맞춤형 랙 및 비품으로 설계되어 다양한 구성 요소 크기와 모양을 수용 할 수 있으며 열 충격 조건에 균일 한 노출을 보장합니다.
• 초고차 온도 제어 및 사이클링 시스템
  • 온도 범위 및 사이클링 :일반적으로 -80 ° C ~ +150 ° C에서 넓은 온도 범위를 달성 할 수 있습니다. 이 시스템은 핫 영역과 차가운 구역 사이의 빠른 온도 사이클링을 실행할 수 있으며, 몇 초 정도의 전환 시간이 짧습니다. 이는 전자 부품이 경험할 수있는 갑작스러운 온도 변화를 모방하는 데 중요합니다. 온도 제어는 ± 0.2 ° C 이내에 정확하며 매우 신뢰할 수 있고 반복 가능한 테스트 결과를 제공합니다.
  • 프로그래밍 가능한 온도 프로파일 :챔버의 제어 시스템은 복잡한 사용자 정의 온도 프로파일의 생성 및 실행을 허용합니다. 연산자는 특정 온도 수준, 각 구역의 거주 시간 및 열 충격 사이클의 시퀀스 및 수를 정의하여 다양한 범위의 실제 제조 및 운영 조건을 복제 할 수 있습니다. 이러한 유연성을 통해 다양한 미션 크리티컬 시나리오에서 구성 요소를 포괄적으로 테스트 할 수 있습니다.
• 직관적 인 제어판 및 데이터 수집 인터페이스
  • 제어판은 반도체 및 전자 엔지니어가 사용하기 쉽도록 설계되었습니다. 온도, 사이클링 시간 및 구성 요소 식별을 포함하여 모든 테스트 매개 변수를 쉽게 설정하고 조정할 수있는 사용자 친화적 인 인터페이스를 제공합니다.
  • 패널은 또한 두 영역, 테스트 프로세스 상태 및 경보 또는 경고의 현재 온도의 실시간 표시를 제공합니다.
  • 챔버는 모든 관련 테스트 데이터를 기록하는 포괄적 인 데이터 수집 시스템과 통합됩니다. 여기에는 세부 온도 이력, 사이클 카운트 및 테스트 된 구성 요소의 전기, 물리적 또는 성능 특성의 관찰 가능한 변화가 포함됩니다.
  • 데이터는 챔버의 내장 메모리에 안전하고 암호화 된 형식으로 저장되거나 심층 분석 및보고를 위해 외부 저장 장치로 내보낼 수 있습니다. 이 시스템은 또한 다양한 표준화 된 형식으로 자세한 테스트 보고서를 생성 할 수 있습니다.
• 향상된 안전 및 보안 기능
  • 운영자의 안전성과 민감한 테스트 샘플 및 챔버 자체의 보호를 보장하기 위해 고급 안전 및 보안 기능 제품군이 통합됩니다.
  • 여기에는 온도 및 전류 보호의 여러 층, 중복 회로가있는 비상 정지 버튼 및 비정상적인 온도 변동, 장비 오작동 또는 보안 위반에 대한 경보가 포함됩니다.
  • 챔버에는 또한 승인되지 않은 액세스 및 보호 된 테스트 활동을 방지하기 위해 생체 인증 또는 스마트 카드 리더와 같은 액세스 제어 메커니즘이 장착되어 있습니다.
  • 또한, 자체 포함 된 화재 억제 시스템과 테스트 중에 생성 될 수있는 잠재적으로 위험한 가스 또는 증기를 처리하기위한 적절한 환기 및 배기 메커니즘이 있습니다.

• 온도 범위와 정확도
  • ± 0.2 ° C 정확도를 갖는 -80 ° C ~ +150 ° C 온도 범위는 포괄적이고 정확한 테스트 봉투를 제공합니다.
  • 전자 구성 요소는 종종 복잡한 내부 구조 및 기능으로 인해 엄격한 온도 공차 요구 사항이 있습니다.
  • 예를 들어, 트랜지스터의 전기 특성은 온도에 따라 크게 변할 수 있으며, 안정성을 평가하려면 정확한 온도 제어가 필수적입니다.
  • 넓은 온도 범위를 통해 매우 차가운 조건과 뜨거운 조건 모두에서 구성 요소를 평가할 수있어 JESD22-A106B를 준수 할 수 있습니다.
• 열 충격 사이클 매개 변수
  • 챔버는 구성 요소의 특정 요구 사항과 예상 서비스 수명에 따라 수십에서 수천까지의 열 충격 사이클 수의 높은 수의 열 충격 사이클을 수행하도록 프로그래밍 할 수 있습니다.
  • 각 온도 영역의 거주 시간은 밀리 초에서 몇 시간에서 몇 시간으로 조정할 수 있으므로 방대한 제조 및 운영 시나리오의 시뮬레이션이 가능합니다.
  • 예를 들어, 모바일 장치에 사용되는 통합 회로는 사용하는 동안 짧고 빈번한 열 충격 사이클을 견딜 수있는 반면 서버의 구성 요소는 더 길고 빈번한 사이클을 경험할 수 있습니다.